奥林巴斯的USPM-RU-W近红外显微分光测定仪可以高速&高精细地进行可视光区域至近红外区域的大范围波长的分光测定。由于其可以很容易地测定通常的分光光度计所不能测定的细微区域、曲面的反射率，因此*适用于光学元件与微小的电子部件等产品。 实的测定功能 使用一台即可进行反射率、膜厚、物体颜色、透过率、入射角45度反射率的各种分光测定。
◆测定反射率 测定以物镜聚光φ17～70μm的微小点的反射率。 ◆测定膜厚 活用反射率数据，测定约50nm～约10μm的单层膜、多层膜的膜厚。 ◆测定物体颜色 根据反射率数据显示XY色度图、L*a*b色度图及相关数值。 ◆测定透过率 从受台下部透过φ2mm的平行光，测定平面样品的透过率。（选配） ◆测定入射角为45度的反射率 从侧面向45度面反射φ2mm的平行光，测定其反射率。（选配） 域的高精度&高速测定
◆实现高速测定 使用平面光栅及线传感器进行全波长同时分光测定，从而实现高速测定。 ◆*适用于测定细小部件、镜片的反射率 新设计了可以在φ17~70μm的测定区域中进行非接触测定的专用物镜。通常的分光光度计不能进行测定的细小电子部件或镜片等的曲面，也可以实现再现性很高的测定。 ◆测定反射率时，不需要背面防反射处理 将专用物镜与环形照明组合，不需要进行被检测物背面的防反射处理，就可测定*薄0.2mm的反射率*。 ◆可选择的膜厚测定方法
根据测定的分光反射率数据进行单层膜或多层膜的膜厚解析。可以根据用途选择*佳的测定方法。
*1 选件组件 *2 本社测定条件下的测定 *3 装配透过率测定套件与45度反射测定套件的总重量为33kg。
*4 点径
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